儀器介紹
X熒光光譜儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無(wú)損分析，EDX4500 X熒光光譜儀對(duì)于粉末冶金、合金行業(yè)和解決鋼鐵企業(yè)對(duì)冶煉時(shí)爐前分析和鋼鐵產(chǎn)品中的元素成分有著獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。EDX4500 X熒光光譜儀*多可測(cè)80種化學(xué)元素，完全滿足粉末冶金、合金行業(yè)和解決鋼鐵企業(yè)實(shí)驗(yàn)室的測(cè)試要求，EDX4500 X熒光光譜儀具有*高效的測(cè)試，*智能的分析，*精準(zhǔn)的結(jié)果。
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EDX4500 X熒光光譜儀軟件介紹
中英語(yǔ)言自動(dòng)切換，客戶可按需自行添加其它語(yǔ)言，人性化界面設(shè)計(jì)，視窗美觀合理，任意多工作區(qū)、工作曲線存儲(chǔ)功能，便于分析各類樣品，高斯、凈面積、全面積、元素?cái)M合等光譜強(qiáng)度計(jì)算方法任意選擇，極其靈敏的元素自動(dòng)識(shí)別系統(tǒng)。

性能參數(shù)
產(chǎn)品型號(hào)：EDX 4500
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間：60秒-200秒
探測(cè)器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

性能特點(diǎn)
高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平
*新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好
SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來(lái)的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

標(biāo)準(zhǔn)配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測(cè)器
數(shù)字多道技術(shù)
鋼鐵行業(yè)測(cè)試專用配件
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵

應(yīng)用領(lǐng)域
鋼鐵檢測(cè)、全元素分析、有害元素檢測(cè)（RoHS、鹵素等）