世佳微爾大課堂之二“電子顯微鏡顯鐵粉原形的原理”

今天繼續(xù)來(lái)聊世佳微爾的科普系列之二“電子顯微鏡顯鐵粉原形的原理”，上一篇文章中我們說(shuō)到的兩種方法比較簡(jiǎn)單，滿足不了某些專業(yè)客戶的認(rèn)可。電子顯微鏡按結(jié)構(gòu)和用途可分為透射式電子顯微鏡、掃描式電子顯微鏡、反射式電子顯微鏡和發(fā)射式電子顯微鏡等，接下來(lái)主要介紹的是掃描顯微鏡。

使用掃描電子顯微鏡SEM觀察鐵粉形貌和粒度
世佳微爾會(huì)采用的工具之一掃描電子顯微鏡SEM，其原理是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)一束高能的入射電子轟擊物質(zhì)表面時(shí)，被激發(fā)的區(qū)域?qū)�產(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見(jiàn)、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時(shí)，也可產(chǎn)生電子-空穴對(duì)、晶格振動(dòng) （聲子）、電子振蕩 （等離子體）。原則上講，利用電子和物質(zhì)的相互作用，可以獲取被測(cè)樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息，如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場(chǎng)或磁場(chǎng)等等。

通過(guò)掃描電子顯微鏡對(duì)粉末進(jìn)行掃描，世佳微爾可以通過(guò)掃描照片直接觀察到粉末顆粒的微觀形貌，同時(shí)根據(jù)掃描照片上的標(biāo)尺，我們可以大致觀察到掃描區(qū)域粉末的粒度分布，借助一定的軟件，通過(guò)手動(dòng)選取照片上的樣本，可以進(jìn)一步較為準(zhǔn)備測(cè)量出掃描區(qū)域粉末的粒度分布。

世佳微爾生產(chǎn)的鐵粉，形貌為不規(guī)則形狀，粒徑分布較為均勻，純度較高，適用于不同行業(yè)，更多詳情，歡迎咨詢。

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